Geräteausstattung
Synthese
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Autoklav
Berghof
Hydrothermalsynthesen
bis 250 °C
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Rotationsbeschichter
Laurell WS-650MZ-23NPP/Lite
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Sprühtrockner
Büchi B-191
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Mikrowellenanlage
Muegge
2000 W, 850 W, 300 W
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Mischen und Mahlen
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Planetenmühle
Retsch PM 400
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Planetenmühle
Fritsch Pulverisette
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Einkristallzüchtung
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Optischer Zonenschmelzofen
CSC FZ-T-10000-H-HR-I-VPO-PC
Tmax > 2000 °C
10-5 mbar < p < 10 bar
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Czochralski-Kristallzüchtungsanlage
Malvern MSR2
Tmax > 2000 °C
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Sägen, Schleifen und Polieren
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Schleif- und Poliertisch
Struers LaboPol-5
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Diamantscheibensäge
Struers Minitom
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Röntgendiffraktion
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Bragg-Brentano
Röntgenpulverdiffraktometer
Bruker D8 Advanced
(Cu-K Strahlung)
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Imaging Plate
Einkristalldiffraktometer
STOE-IPDS2T
(Mo-K Strahlung)
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Vierkreis-
Einkristalldiffraktometer
STOE-STADI4
(Ag-K Strahlung)
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Spektroskopie
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UV-Vis Transmissionsspektrometer
VWR UV-3100 PC
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UV-Vis-NIR Reflektionsspektrometer
Perkin Elmer Lambda 19
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FT-IR
Infrarotspektrometer
Bruker Alpha
Transmission und Reflektion (ATR)
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Bestimmung physikalischer Eigenschaften
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Physical Properties Measurement System
Quantum Design PPMS9
2K < T < 400 K, -90 kOe < H < +90 kOe
- Magnetismus
- Elektrische Leitfähigkeit
- Spezifische Wärme
- Thermoelektrische Eigenschaften
- Hall-Effekt
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Impedanzanalysator
HP 4192A
1 Hz bis 13 MHz mit Thermostat
Julabo F25, -20°C bis +250°C
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Gasphysisorption
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Gasphysisorptionanlage
Quantachrome Nova 1000
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Thermische Analyse
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Thermoanalysesystem
Netzsch STA 449F5
Simultane TG und DSC/DTA bis 1500 °C
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Thermoanalysesystem
Netzsch Jupiter
Simultane TAG und DSC/DTA mit gekoppelter Massenspektrometrie (nicht gezeigt) bis 1400 °C
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Dilamometer
Netzsch TMA 402 F3
Thermische Ausdehnung/Sinterverhalten bis 1500 °C
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Dilamometer
Netzsch TMA 402
Thermische Ausdehnung/Sinterverhalten bis 1200 °C
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Thermowaage
TA Instruments TGA 2950
Thermogravimetrie bis 1000 °C
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Tieftemperatur-DSC Setaram 131 evo
Temperaturbereich -150 °C bis 500 °C
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Chemische Analyse
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Flammenatomabsorptions-
spektrometer (AAS) Agilent 280FS
mit Autosampler und
automatischer Verdünnungseinrichtung
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Laboröfen (Auswahl)
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Diverse Kammer- und Rohröfen mit maximalen Arbeitstemperaturen zwischen 1100°C und 1750°C.
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Rasterelektronenmikroskopie
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Rasterelektronenmikroskop Phenom ProX
Vergrößerung bis ca. 50.000x, Beschleunigungsspannung 5 - 15kV, BSE-Detektor mit EDX-Zusatz
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